UEM (Universidade Estadual de Maringá - Paraná) - Biólogo - UEM (Universidade do Estado de Maringá) - 2017
No microscópio eletrônico de varredura, devido à necessidade de interação do feixe eletrônico com a amostra, alguns elétrons são absorvidos pela amostra. Esses elétrons devem ser conduzidos para o fio terra do microscópio. Por isso, recomenda-se
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a) utilizar tensões mais altas do microscópio com o objetivo de aumentar a condutividade da amostra.
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b) recobrir a amostra com uma fina camada de ouro.
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c) recobrir a amostra com uma fina camada de tungstênio.
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d) utilizar correntes mais altas do microscópio com o objetivo de aumentar a condutividade da amostra.
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e) observar apenas materiais condutores.
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A imagem formada a partir do sinal captado na varredura eletrônica de uma superfície pode apresentar diferentes características, uma vez que a imagem resulta da amplificação de um sinal obtido de uma interação entre o feixe eletrônico e o material da amostra. Diferentes sinais podem ser emitidos pela amostra. Os tipos de sinais (elétrons) utilizados na formação de imagens por microscopia eletrônica de varredura são
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a) secundários e transmitidos.
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b) primários e secundários.
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c) transmitidos e refletidos.
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d) secundários e retroespalhados.
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e) refratados e transmitidos.
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Um microscópio eletrônico de varredura (MEV) utiliza um feixe de elétrons para obter imagens, enquanto um microscópio óptico convencional utiliza fótons para esse propósito. O fato de o microscópio eletrônico usar um feixe de elétrons permite
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a) maior facilidade na preparação das amostras.
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b) maior rapidez na observação das imagens das amostras.
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c) o uso de comprimentos de onda maiores.
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d) maior magnificação e maior resolução nas imagens obtidas.
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e) o uso de lentes com índice de refração maior.
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O microscópio eletrônico de varredura não pode fornecer informações sobre
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a) a morfologia da superfície de uma amostra.
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b) elementos químicos presentes em uma amostra.
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c) o tamanho de componentes da amostra.
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d) detalhes da superfície do material em tons de cinza.
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e) gases evaporados durante o processo de síntese da amostra.
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A aparência tridimensional das imagens obtidas em um microscópio eletrônico de varredura é resultado direto
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a) do campo magnético gerado pelas lentes eletromagnéticas.
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b) da grande profundidade de campo.
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c) do sistema de autofoco presente no microscópio.
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d) da posição do porta-amostras dentro do microscópio.
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e) das amostras permanecerem em vácuo.
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O sinal gerado pelos elétrons retro espalhados é resultante das interações ocorridas mais para o interior da amostra e proveniente de uma região do volume de interação, abrangendo um diâmetro maior do que o diâmetro do feixe primário. A imagem gerada por esses elétrons fornece informações em relação
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a) à densidade da amostra.
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b) à estequiometria da amostra.
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c) ao contraste em função da variação de composição da amostra.
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d) ao contraste em função da temperatura de diferentes regiões da amostra.
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e) ao astigmatismo da imagem.
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A construção da coluna óptico-eletrônica do microscópio eletrônico de varredura visa à produção de um pequeno feixe de elétrons de alta intensidade. Não faz parte da coluna
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a) o espelho dicroico.
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b) as lentes eletromagnéticas condensadoras.
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c) as bobinas de varredura.
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d) as bobinas de alinhamento.
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e) lentes eletromagnéticas objetivas.
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Dos parâmetros apresentados abaixo o que não influencia na resolução da imagem em um microscópio eletrônico de varredura é
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a) a tensão de aceleração dos elétrons.
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b) a corrente da sonda.
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c) a distância de trabalho – que é a distância entre a amostra e a lente objetiva.
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d) o tempo de observação.
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e) a área de emissão do feixe.
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A microanálise eletrônica consiste na medida de raios X característicos emitidos de uma região microscópica da amostra bombardeada pelo feixe de elétrons. Sobre isso, é incorreto afirmar que
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a) os detectores baseados na medida do comprimento de onda são os mais usados.
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b) as linhas de raios X característicos são específicas do número atômico da amostra.
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c) o seu comprimento de onda ou sua energia podem ser utilizados para identificar o elemento que está emitindo a radiação.
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d) a emissão proveniente de elementos de baixo número atômico consiste de bandas na região de baixa energia onde as perdas por absorção na amostra são grandes.
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e) dois tipos de detectores que captam raios X característicos podem ser utilizados: por dispersão de energia (EDS) ou por dispersão em comprimento de onda (WDS).
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Considerando a preparação de materiais biológicos para observação no microscópio eletrônico de varredura, em modo normal de operação, assinale a alternativa incorreta.
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a) Os materiais devem passar pelo processo de fixação e desidratação.
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b) Os materiais devem passar pelo processo de secagem ao ponto crítico do CO2 (CPD - critical point drying).
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c) Na câmara de ponto crítico, em um volume de etanol absoluto ou acetona, injeta-se o CO2 líquido, fazendo-se várias substituições até remoção total do etanol ou acetona.
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d) A amostra deve ser montada em um suporte metálico e metalizada por sputtering.
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e) A amostra deve ser inserida em formol para a obtenção de imagens coloridas.
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